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(1)无杂散信号分析：通过显著消除虚假噪声，反射计能够产生清晰的测量结果，从而加速研发分析并改进生产中的缺陷检测，直接提高了效率。
(2)超高灵敏度：IRDiO系列实现了低至-100 dB的灵敏度，能够以极高的清晰 度捕捉到极其微小的反射。 这提供了高度精确的波形分析和长期的产品可靠性，其灵敏度大约高1000倍。
(3)尖峰波形：高分辨率和宽动态范围相结合，可提供清晰的波形，在强信号旁边暴露出最小的反射，从而在分析中提供无与伦比的信心。
(4)双波长同步测量：Premium可以在短短十秒内同时测量两个波长的反射损失，当与OPM传感器头结合使用时，它可以在一次操作中同时评估反射和插入损失。这消除了重新连接的需要，缩短了节拍时间，并节省了宝贵的实验室空间。
(5)多光纤测量：Premium与Multi多开关单元结合使用，可自动测量多达24根光纤，从而实现对多根光纤和光学设备的高效检查和分析。
(6)一步完成RL和IL测量：通过将Premium与OPM探头结合使用，用户可以使用单个系统同时自动测量两个波长的回波损耗和插入损耗。该系统具有无杂散和高灵敏度的性能，能够清晰地区分可靠产品（无反射峰）和缺陷产品（存在反射峰）。控制软件还会生成检查报告，以简化质量管理。
(7)多通道光纤设备的双波长反射和插入损耗测量：Premium与Multi配合使用时，可自动检查多条光纤和分光器等设备。它可以在多个端口同时测量回波损耗和插入损耗。这消除了手动重新连接或切换的需要，为了达到最高效率，只需按下一个按钮即可测试多个端口。
(8)光学器件中的元件位置和反射分析：Premium具有高空间分辨率、无杂散操作和锐利的波形，能够精确识别光学设备内部的组件位置，并测量其边缘产生的反射光。
(9)波导内部反射和传播损耗分析：Premium系列能够精确捕捉尖锐的峰值，清晰地分辨出强耦合点反射附近的小反射和散射光。 传播损耗可以直接从回波损耗分布的斜率计算得出，与传统的削减方法相比，能够以更低的成本和更短的时间进行精确的波导分析。
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