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插损测试仪
  • 产品介绍

    OP815 是为了快速、准确的测试光纤元器件的插入损耗(IL) 而设计的。利用内置的、稳定的激光或LED光源结合精密的光功率计来测量插入损耗.。使用OP815可以在不到1秒时间测试双波长的插入损。与OptoTest 其他所有设备一样OP815 支持USB接口。通过OPL-Pro总控应用软件可以将该设备完成集成到一天高效产线的数据采集中。

    特点

    •超薄型 (8.5x3.5x10) 台式一体机 

    • 标准电脑的高速USB接口 

    • 光缆测试你软件OPL-Pro可以直接将测试数据生成到电子表格中  

    • 通过OPL-SDK 可以接入自定义应用

    • F全自动单波长或双波长测试插入损耗。

    • M多模设备可用于EF, M80, 70/70发射条件仪的控制。

    • 各种用于检测单光纤或双光纤的探测器